對(duì)微小顆粒計(jì)數(shù)和分級(jí)在生產(chǎn)和科學(xué)研究中具有特殊的重要性,一與目前通用的幾種方法相比,激光衍射法具有*的優(yōu)點(diǎn),而zui顯著和誘人的是它的快速性和非接觸性,由于信息的產(chǎn)生和采集幾乎是同時(shí)進(jìn)行,故適于研究動(dòng)態(tài)顆粒群的大小分布和實(shí)時(shí)控制粉體生產(chǎn)線。而測(cè)量的不接觸性又使該法不受顆粒的物理、化學(xué)諸性質(zhì)的限制,不對(duì)顆粒產(chǎn)生任何干擾,從而使其適應(yīng)面極廠。對(duì)于細(xì)小的種子的可以使用顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行計(jì)數(shù)，所得的結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

　　在此,關(guān)鍵是使顆粒間充分分離,并且不能互相遮掩。分散的好壞對(duì)測(cè)量結(jié)果影響極大,如果分散不充分,則測(cè)算出的結(jié)果中,大顆粒偏多。為了測(cè)得本文所定義的徑向強(qiáng)度譜,需使用專門(mén)的光電探測(cè)器。我們所用的探測(cè)器結(jié)構(gòu)為連續(xù)排列的一組同心環(huán)。測(cè)量時(shí)使待測(cè)樣品的傅里葉頻譜的中心與探測(cè)器環(huán)陣的園心重合,那么每一環(huán)所測(cè)得的光能除以該環(huán)面積,即得這一環(huán)處的徑向強(qiáng)度譜值廈而萬(wàn)-,即為第j個(gè)探測(cè)環(huán)的平均半徑。

　　顆粒計(jì)數(shù)器數(shù)據(jù)處理時(shí),我們采用曲線擬合法。從曲線擬合的程度看,測(cè)量結(jié)果真實(shí)地反映了待測(cè)顆粒群的情況,這有力地說(shuō)明了這種方法的可行性。由以上結(jié)果和分析可知,用激光衍射法對(duì)小顆粒計(jì)數(shù)和分級(jí)是*可行的,尤其適用于分布在幾微米到幾微米范圍的顆粒。在其他技術(shù)完善之后,對(duì)樣品的分散就成了關(guān)鍵性的因素。